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ATE引腳電子器件的電平設置DAC校準
本文提供一種校準數模轉換器(DAC)的方法，專用于引腳電子器件驅動器、比較器、負載、PMU和DPS。DAC具有差分非線性(DNL)和積分非線性(INL)等非線性特性，我們可以通過增益和偏置調整來盡可能降低這些特性。本文描述如何執行這些校準，以改善電平設置性能。
2022-06-28
ATE 引腳電子器件 DAC
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如何從仿真的世界看串擾
隨著技術的飛速發展，電子產品的而尺寸越來越小，數據的傳輸速度卻越來越高。普通消費類電子產品的PCB電路板很多至少是四層、六層甚至更多層。當信號沿傳輸線傳播時，信號路徑和返回路徑之間將產生電力線，圍繞在信號路徑周圍就會產生非常豐富的電磁場。這些延伸出去的場也稱為邊緣場，邊緣場將會通...
2022-06-27
仿真 串擾
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驅動器源極引腳的效果：雙脈沖測試比較
在上一篇文章中，我們通過工作原理和公式了解了有無驅動器源極引腳的差異和效果。有驅動器源極引腳的MOSFET可以消除源極引腳的電感帶來的影響，從而可降低開關損耗。在本文中，我們將通過雙脈沖測試來確認驅動器源極引腳的效果。
2022-06-24
驅動器 源極引腳 雙脈沖測試
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利用PMBus數字電源系統管理器進行電流檢測——第二部分
本文第二部分介紹如何測量高壓或負供電軌上的電流，以及如何為IMON檢測方法設置配置寄存器。本文闡述了測量電流的精度考慮因素，并提供了使用LTpowerPlay?進行器件編程的相關說明。在第一部分，我們介紹了電流檢測的基本概念，包括各種方法和電路拓撲。
2022-06-24
PMBus 數字電源系統 電流檢測
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你還在用光標測量I2C通信時序嗎？
由于I2C信號質量容易受寄生電容影響，時序一致性測試對保障通信穩定至關重要。本文將通過實例應用教您一秒鐘完成時序測試，快速分析I2C信號脈寬、幅值、邊沿、建立時間、保持時間等多種組合參數。
2022-06-22
光標測量 通信時序
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IPOSIM的今昔——從器件級的計算到基于系統的仿真
選擇合適的功率半導體器件是功率電路設計的核心，需要通過計算獲得器件的損耗、系統溫度，有時還需要估算器件的壽命。這是個系統工程，一般需要專業團隊和多種仿真軟件實現。這對于大多數的設計團隊的項目很難實現，為此英飛凌25年前就提供的基于器件的損耗和溫度計算工具IPOSIM，這一平臺發展到今...
2022-06-22
IPOSIM 英飛凌 電路設計
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使用商業級實驗室設備測量超低偏置電流的實用技巧
在要求低漏電流的應用中，請務必選擇低輸入偏置電流(IB)的運算放大器。應用筆記 AN-1373 介紹如何使用 ADA4530-1 評估板測量超低偏置電流。然而，由于飛安(fA)級電流的實際處理性質，測量環境（夾具、屏蔽、電纜、連接器等設備）也會影響測量結果。
2022-06-10
測量 偏置電流 技巧
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Digi-Key推出 myLists 報價功能，以提高訂貨效率
美國明尼蘇達州錫夫里弗福爾斯市訊——全球供應品類豐富、發貨快速的現貨電子元器件分銷商 Digi-Key Electronics 日前宣布，已增強其 myLists 工具，將報價功能包含其中，以提高訂貨效率。 現在 Digi-Key 客戶可以借助 myLists 更高效地工作，使用 myLists 的報價功能將所有內容保存在一個方便的位置...
2022-06-09
Digi-Key myLists 報價功能
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使用新型MEMS開關加快測試能力并提高系統產出
先進的數字處理器IC要求通過單獨的DC參數和高速數字自動測試設備(ATE)測試，以達到質保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰。本文介紹 ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數測試和高速數字測試，從而降低測試成本，簡化數字/RF片上系統(SoC)的測試流程。
2022-06-09
MEMS開關 ATE ADGM1001
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