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寫在新年開端——邊緣智能，賦能數字化未來
一元復始，萬象更新。新年開工已經一周，每個人對新的一年都寄予希望，心懷憧憬的同時，我們也在此刻審視周圍的環境，討論新年的愿景。新的一年世界仍然面臨著大大小小的挑戰，即使是最權威的經濟學家也無法給出確切的預測。如果從更長的時間范疇來看，技術與人類進步的腳步卻從未停歇，貫穿各種上上下下的周期，這也許是對長期主義最好的詮釋。ADI的logo下面有一行小字“超越一切可能”，我想這也是擁有信心與韌性的ADI人對新年表達的期待。
2023-02-24
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ADI與您相約MWC 2023，即刻體驗未來連接
中國，北京 — 2023年2月17日 — Analog Devices, Inc. (Nasdaq: ADI)誠邀公眾參與2023年世界移動通信大會(MWC)，期待通過演示互動和專家研討，一同體驗未來的連接技術。歡迎您到訪2號展廳#2B18號展位，近距離了解ADI公司在降低能耗、縮短設計周期、改變未來工作方面的解決方案，以及如何將環境影響最小化，實現并加速突破性創新，進而為人們帶來多彩生活。
2023-02-18
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ADI解決方案如何降低BOM供應短缺的風險
有關半導體組件壽命終止和電源限制的通知現在是應用工程師每天面臨的客戶關注的問題。在ADI方面，與產品功能或性能相關的傳統查詢有時是次要的，因為客戶無法采購推薦的組件而導致的查詢數量不斷增加。在客戶方面，工程團隊在嘗試將ADI技術與作為ADI錨定產品配套產品所需的長交貨期器件集成時面臨著嚴峻的挑戰。
2023-02-08
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為何在開關穩壓器中，電流模式控制非常重要？
市場上有數千款不同的開關穩壓器，用戶會基于不同的參數選擇所需的類型，例如輸入電壓范圍、輸出電壓范圍、最大輸出電流，以及許多其他參數。本文ADI將針對電流模式進行介紹，這是數據手冊中常見的一項重要特性，同時還會分析此模式的優缺點。
2023-02-01
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制作RF設計原型的更好方法--使用X-Microwave
對于RF設計，典型的原型制作經驗是這樣的：為信號鏈中的每個元器件購買評估板，使用RF線纜將這些板串在一起，粗略估計適當布局的信號鏈要是構建在單個生產PCB上會有怎樣的性能。由于評估板PCB走線較長，并且涉及到大量布線和連接器，因此這種方法會產生相當大的插入損耗。由此得到的原型上線測試過程也可能令人沮喪且耗時，因為每個評估板都有特定的電壓要求。RF器件需要多個具有特定電源軌上電時序電壓的情況也很常見，如果違反時序要求，器件可能會損壞。單單電源和RF線就可能造成巨大麻煩，如有電路板需要數字控制，事情會變得更加復雜。如果整個系統在首次開啟時沒能像預期的那樣正常工作，那么調試很快就會變成耐心和毅力的磨煉。原型設計是RF工程界眾所周知的一個令人頭疼的問題，然而更快速、更簡單、更準確的原型解決方案則是使用ADI的X-Microwave。
2023-01-18
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ADI太陽能模擬器方案
近年來隨著太陽能應用的不斷發展，關于太陽能利用、轉換的相關產品，尤其是太陽能電池板的使用量也逐漸增加。過去，這些產品都是在自然環境下進行測試，受制于氣候條件，因此存在測試周期長、數據的可重現性差等不足。
2023-01-13
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晶圓級封裝Bump制造工藝關鍵點解析
射頻前端（RFFE，Radio Frequency Front-End）模組國內外手機終端中廣泛應用。它將功率放大器（PA，Power Amplifier）、開關（Switch）、低噪聲放大器LNA（Low Noise Amplifier）、濾波器（Filter）、無源器件等集成為一個模組，從而提高性能，并減小封裝體積。然而，受限于國外專利以及設計水平等因素，國產濾波器的份額相當低。
2023-01-13
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以獨特產品設計競逐微控制器賽道，ADI低功耗MCU加速物聯網應用落地
無論是黑燈工廠里設備的有序運行，還是溫馨家居中電器的自動感知，抑或是數字醫療中的體征信號數據采集，微控制器（MCU）幾乎是解決一切有控制需求場景的“萬能鑰匙”。近年來，隨著物聯網走入更廣泛的場景，例如可穿戴設備、遠程測控、無線傳感等諸多應用中，衍生出大量的低功耗類數據采集和控制需求，低功耗MCU成為微控制器品類中的一個重要細分市場。根據相關資訊預測，在全球微控制器市場份額中，低功耗微控制器約占15%～20％，2019年市場規模為44億美元，預計到2024年將增長到129億美元，年復合增長率（CAGR）高達24.1％。
2023-01-11
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ADI時鐘產品更新以及典型應用
相信大家對時鐘產品并不陌生，因為它在我們的電路中隨處可見，小到晶振，通常我們的MCU需要一個25MHz（或者其他頻率的）的Oscillator；或者是一個采集系統，里面的時鐘可能相對復雜，可能有ADC的采樣時鐘，FPGA的數字時鐘等，如何讓ADC前端的數據不失真的被FPGA獲取，時鐘信號非常關鍵。
2023-01-11
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使用虛擬實驗設計預測先進FinFET技術的工藝窗口和器件性能
負載效應 (loading) 的控制對良率和器件性能有重大影響，并且它會隨著 FinFET（鰭式場效應晶體管）器件工藝的持續微縮變得越來越重要[1-2]。當晶圓的局部刻蝕速率取決于現有特征尺寸和局部圖形密度時，就會發生負載效應。刻蝕工藝 loading 帶來的器件結構上的微小變化可能會對器件良率和性能產生負面影響，例如在偽柵多晶硅刻蝕過程中，由于刻蝕的負載效應，可能會在柵極和鰭結構交叉區域產生多晶硅邊角殘留，進而造成 FinFET 結構的改變，并直接影響 FinFET 柵極的長度和電學性能。多晶硅邊角殘留對良率和器件性能的影響，包括可接受的殘留的尺寸大小，可使用 SEMulator3D? 提前預測。
2023-01-11
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ADI和Seeing Machines攜手推進先進駕駛輔助系統，加速提升駕駛安全
中國，北京—2023年1月4日—Analog Devices, Inc. (Nasdaq: ADI)（全球領先的半導體公司）和Seeing Machines (LSE:SEE)（先進的計算機視覺技術公司，擅長設計基于AI的駕駛員監測系統，以提高行駛安全性）宣布達成合作，共同支持高性能駕駛員和乘客監測系統(DMS/OMS)技術的研發。
2023-01-04
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可穿戴設備結合人工智能技術進入醫療產業
在醫療產業中，有越來越多小巧、隨身的可穿戴設備，成為監測病人生理狀態的最佳工具，隨著人工智能（AI）技術的快速發展，這些可穿戴設備也變得更為精準、智能，能夠提早預判病人的身體狀況變化，以便提供早期預警、及早救護或給藥，挽救更多病人的寶貴生命。本文將為您介紹結合人工智能技術的可穿戴設備的最新發展，以及由艾睿電子代理的ADI、安森美（onsemi）、村田（Murata）公司的相關解決方案。
2023-01-03
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